gute aussichten_mustererkennung - junge deutsche fotografie

Laufzeit: 18. August 2012 bis 14. Oktober 2012

Das Nachwuchsförderungsprojekt für junge deutsche Fotografie "gute aussichten" besteht seit 2004. Im jährlichen Wettbewerb prämiert eine namhafte Jury Abschlussarbeiten von deutschen Hochschulen, Fachhochschulen und Akademien für Fotografie. Die Gewinnerinnen und Gewinner werden in Ausstellungen und Medien der Öffentlichkeit vorgestellt. Extra für das Museum für Angewandte Kunst in Köln und in enger Zusammenarbeit hat die langjährige Mitarbeiterin von "gute aussichten" und Jurymitglied Dr. Wibke von Bonin die Themenausstellung zusammengestellt. Die Ausstellung zeigt neue Arbeiten von Preisträgerinnen und Preisträgern der Jahre 2004 bis 2011, die sich im weitesten Sinn mit den Themen Strukturen, Charakter, Form, Gefüge, Konstruktionen, Wesen und Gestalt, also dem Muster und seiner Erkennung, kurz der Mustererkennung auseinander gesetzt haben.